XIII Seminarium Naukowe „Tomografia procesowa – aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne”

XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (1)

W dniu 14.10.2016 odbyło się XIII Seminarium Naukowe „Tomografia procesowa – aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne”.

Organizatorzy:

  • Centrum Badawczo-Rozwojowe Netrix S.A.
  • Lubelski Inkubator Technologii Informatycznych
  • Katedra Informatyki WSPA
  • Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej, Instytut Radioelektroniki i Technik Multimedialnych Politechniki Warszawskiej
  • Zaoczne Studium Doktoranckie Instytutu Elektrotechniki w Warszawie

 

Patronat

Polskie Stowarzyszenie Tomografii Procesowej

 

Miejsce

Zakład Elektroniki Jądrowej i Medycznej, Instytut Radioelektroniki i Technik Multimedialnych Politechniki Warszawskiej

Agenda

Godziny Prelegenci Referaty
1000-1045 Waldemar Smolik Rozwój rentgenowskiej tomografii komputerowej
1045-1130 Damian Wanta Pomiary impedancji w tomografii elektrycznej
1130-1215 Karol Duda Analiza systemów pomiarowych EIT
1300-1345 Jakub Szumowski, Przemysław Adamkiewicz, Karol Duda, Paweł Tchórzewski, Tomasz Rymarczyk Tomograf hybrydowy – postęp prac
1400-1445 Tomasz Rymarczyk Tomografia przemysłowa – nowe koncepcje i wyzwania

Referaty:

  1. Waldemar Smolik: Rozwój rentgenowskiej tomografii komputerowej

W prezentacji przedstawiony został rozwój tomografii medycznej od momentu pierwszych koncepcji do dnia dzisiejszego.

XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (2) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (3) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (4)

  1. Damian Wanta: Pomiary impedancji w tomografii elektrycznej

W prezentacji przedstawiono metody pomiaru impedancji, zakłócenia w pomiarach biologicznych, metodę AC, wzmacniacz transimpedancyjny oraz aktywne elektrody bezkontaktowe.

XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (5) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (6) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (7) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (8) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (9) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (10) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (11)

  1. Karol Duda: Analiza systemów pomiarowych EIT

Autor przedstawił w swoim wystąpieniu stan wiedzy technicznej na temat systemów pomiarowych wykorzystujących technikę elektrycznej tomografii impedancyjnej. Zaprezentowane zostały rozwiązania obecnie dostępne na rynku i omówione zostało ich zastosowanie praktyczne. Wskazano rzeczywiste aplikacje systemów tego typu, zarówno w medycynie jak i w przemyśle. Przedstawiono konkretne urządzenia oraz cechy wyróżniające je na tle konkurencji wraz ze wskazaniem zalet i wad.

XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (12) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (13) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (14) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (15) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (16)

  1. Jakub Szumowski, Przemysław Adamkiewicz, Karol Duda, Paweł Tchórzewski, Tomasz Rymarczyk: Tomograf hybrydowy – postęp prac

Autorzy zapoznali audytorium z postępem prac konstrukcyjnych i analitycznych przeprowadzanych w laboratorium firmy Netrix S.A. Przedstawiono wyniki pomiarów wzorców pojemności dokonywanych wzmacniaczem homodynowym (lock-in). Zaprezentowano weryfikację hipotez pomiarowych. W dalszej części przedstawiono stan rozwoju konstruowanego sprzętu. Uczestnicy seminarium mieli okazję poznać stan prac nad modułem multipleksera i związanych z nim problemów konstrukcyjnych. Przedstawiono stanowisko pomiarowe i wyniki uzyskane na nim wskazujące na jakość pracy prototypu tego urządzenia. Na koniec po ukazaniu efektów prac programistycznych nad programem pomiarowym EIT, zaprezentowano stanowisko laboratoryjne do badania wilgotności w murach oraz wyniki zebrane podczas pomiarów testowych wraz z ich analizą, symulacjami i korelacją wyników zakładanych z rzeczywistymi.

XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (17) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (18) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (19) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (20) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (21) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (22) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (23) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (24) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (25) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (26) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (27) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (28) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (29) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (30) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (31) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (32) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (33) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (34)

  1. Tomasz Rymarczyk: Tomografia przemysłowa – nowe koncepcje i wyzwania

W prezentacji zostały przedstawione najnowsze osiągniecia tomografii przemysłowej i dalsze kierunki jej rozwoju, a w szczególności rekonstrukcje obrazów 2D i 3D, zastosowania tomografii procesowej w przemyśle, systemy akwizycji danych i oprzyrządowanie, dane i sensory fuzyjne, multimodalne techniki tomograficzne, nowe technologie w tomografii procesowej, innowacje przemysłowe z tomografią procesową oraz modelowanie i symulacje.

XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (35) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (36) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (37) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (38) XIII-Seminarium-Naukowe-tomografia-procesowa (39)